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          EDX系列x熒光光譜儀

          EDX系列x熒光光譜儀

          產品介紹:EDX系列x熒光光譜儀,能量色散X射線熒光光譜儀應用于RoHS &amp;amp; WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測量、工業鍍層厚度測量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質和半導體以及各種合 金、貴金屬成份分析.

          更新時間:2024-01-22

          產品報價:

          EDX系列x熒光光譜儀的詳細資料:

          EDX系列x熒光光譜儀,能量色散X射線熒光光譜儀應用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測量、工業鍍層厚度測量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質和半導體以及各種合金、貴金屬成份分析.
          EDX系列x熒光光譜儀主要特點
          分析元素范圍 S-U

          分析元素的濃度范圍 2ppm—100%
          整機穩定性連續8小時測RSD<0.25%
          ● ROHS/WEEE檢測時間100-120

          美國進口電制冷Si(Pin)探測器

          電制冷Si(Pin)探測器 晶體面積15mm2分辨率<155eV
          全數字脈沖處理器技術

          優異的峰背比、*的痕量分析靈敏度

          ● 50KV,50W自防護X-射線管

          復合濾光片智能切換技術

          特征:

          可分析精確分析氯元素和油漆中的鉛

          集成FP法,Alpha系數法、經驗系數法

          安全聯動裝置,軟硬結合的輻射設計

          操作簡單、一鍵式操作

          智能軟件自動參數設定和選擇濾光片

           X射線管超溫保護

          電子冷卻,無需液氮和其它耗材

          技術規格

           

          儀器型號

          EDX-1800x熒光光譜儀

          分析原理

          能量色散X射線熒光分析法

          分析范圍

          S(16)-U(92)任意元素

          檢出下限

          Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm

          樣品形狀

          任意大小,任何不規則形狀

          樣品類型

          塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等

          X射線管

          靶材

          鉬(Mo)靶

          管電壓

          5─50KV

          管電流

          1─1000uA

          探測器

          美國AMP-TEK Si-PIN探測器,高速脈沖高度分析系統

          高壓發生器

          美國SPELLMAN高壓發生器

          濾光片

          智能濾光片自動選擇并自動轉換

          樣品觀察

          500萬彩色攝像機

          分析軟件

          *升級

          分析方法

          Alpha系數法(NBS-GSC法)、FP法、標準曲線法

          符合規范

          IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006

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