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          X熒光光譜儀用途及優點
          點擊次數:3200 更新時間:2016-12-24
          X熒光光譜儀由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X熒光(二次X射線),探測器對X熒光進行檢測。
          X熒光光譜儀主要用途
          X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度,可以 測定元素含量。
          近年來,X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展,已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域,特別是在RoHS檢測領域應用得zui多也zui廣泛。大多數分析元素均可用其進行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。
          優點
          a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,幾分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
          b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關,而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內,這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
          c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變,也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。
          d) X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
          e) 分析精密度高。
          f) 制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。 

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